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题目(Title):
《造芯大讲堂(装备篇)》——《超声波检测技术在晶圆级键合工艺中的应用》
主讲人(Speaker):
段忠福
开始时间(Start Time):
2026-01-29 10:00
结束时间(End Time):
2026-01-29 12:00
报告地点(Place):
材料器件中心S209
主办单位(Organization):
材料器件中心
协办单位(Co-organizer):
简介(Brief Introduction):
1.解析混合键合、热压键合等主流工艺的晶圆级键合技术原理与工艺特性。
2.阐述超声波扫描显微镜(SAM)实现非破坏性检测的机理。
3.分析SAM技术在TSV转接板、2.5D/3D堆叠封装等高端键合工艺质量管控检测中的应用。
2.阐述超声波扫描显微镜(SAM)实现非破坏性检测的机理。
3.分析SAM技术在TSV转接板、2.5D/3D堆叠封装等高端键合工艺质量管控检测中的应用。

