1.解析混合键合、热压键合等主流工艺的晶圆级键合技术原理与工艺特性。
2.阐述超声波扫描显微镜(SAM)实现非破坏性检测的机理。
3.分析SAM技术在TSV转接板、2.5D/3D堆叠封装等高端键合工艺质量管控检测中的应用。
2.阐述超声波扫描显微镜(SAM)实现非破坏性检测的机理。
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发布时间2026-01-26文章来源 上海科技大学作者责任编辑系统管理员
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